SZT-4数字式四探针测试仪是一款二量程的电阻测量仪器，通过配备手持式测试头或座式测试架，可灵活应对不同形状和尺寸的半导体材料测量需求。其测量范围广泛，电阻率可在0.01~200欧姆/厘米之间，能够满足大部分半导体材料的测试要求。同时，客户可以根据不同的测试需求选择不同的量程，最小可测量0.0001Ω，最大可测量100000Ω，确保测试的准确和可靠。

在测试过程中，SZT-4数字式四探针测试仪采用了恒流源技术，通过对恒流源的调整，可以对某些测量结果进行修整。例如，对于普通硅材料的测试结果，仪器可以自动乘以0.628的探险头修正系数，从而得到更准确的测量结果。此外，仪器还可以对硅材料薄层扩散和导电薄膜的“方块电阻”进行修正，修正系数为4.53等，进一步提高了测试的精度和可靠性。

SZT-4数字式四探针测试仪不仅具有强大的测量功能，其操作也十分简便。仪器体形小巧，手持式测试头设计使得测试过程更加灵活便捷。同时，仪器的量程适中，十分适合对重炼回料的分选工作，为生产过程中的质量控制提供有力支持。

为了确保仪器的稳定运行和测量结果的准确性，我们对SZT-4数字式四探针测试仪的工作环境条件进行了严格规定。仪器应在温度18℃―25℃、相对湿度60%－80%的环境下使用，并避免强电场干扰和与高频设备共用电源。这些措施有助于减少外部因素对测试结果的影响。

SZT-4数字式四探针测试仪还具备丰富的技术参数和配置选项。仪器配备了数字电压表，量程为200mV单一量程，误差控制在读数±0.2%±3字以内。同时，仪器还采用了高精度恒流源，输出电流在0~10mA范围内连续可调，量程可选1mA或10mA，误差同样控制在±0.2%±3字以内。